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i.Profiler® plus

減少問題並提供更多解答

i.Profiler® plus

減少問題並提供更多解答

i.Profiler®plus自動驗光

減少問題並提供更多解答

只有獲得足夠的顧客眼睛資料,才能產生正確的鏡片處方。透過i.Profiler® plus所得的詳細視力資料,讓您減少問題,為顧客提供更多答案

i.Profiler ®plus四合一的緊密系統包括波前像差、自動驗光、ATLAS角膜地形圖測量以及角膜曲率測量功能。測量過程完全自動化,同時配搭易於使用的觸控式螢幕控制台,只需要約60 即可完成雙眼所有測量,而且,還可以分析整個瞳孔大小,呈現眼睛的光度分佈。這就是i.Profiler® plus有 別於一般自動驗光產品之處,也是蔡司鏡片得以結i.Scription® 技術的關鍵。

事實一覽

  • 高解析度Hartmann-Shack波前像差感測器。於7毫米瞳孔孔徑範圍內的1500點進行波前像差採樣
  • 可調較式下巴托架提供更舒適的測量姿勢
  • 測量過程完全自動化
  • 最新:通過蔡司i.Com mobile遙控蔡司i.Profiler,並將顧客的i.Scription Analysis顯示在iPad上。

  • 使用蔡司i.Scription技術改善夜間視覺
  • 功能架構清楚易明,有助於資料的收集、評估、呈現和分析
  • 搭配觸控式螢幕控制台,60秒內快速完成所有雙眼測量
  • i.Profilerplus的測量數據可儲存到i.Com資料管理系統中,可以用於將來的諮詢、訂購和建檔,無需進一步測量。另可與一般PMS系統連接,確保流程順暢。i.Com和i.Profiler® plus可結合成為一個全面套裝解決方案。

技術資料,波前技術  
´測量範圍
球面:–20 D 至 +20 D
軸度
0° – 180°
測量表面
2.0毫米 至 7.0毫米(3個區域)
測量點數量
達 1500
方法
Hartmann-Shack
參考波長
1 555納米 (ISO 24157)
技術資料,角膜地形圖  
環圈數量
22(18個完整環圈)
´測量點數量
3,425
測於42.125 D角膜表面
直徑0.75毫米至9.4毫米
屈光度
測量範圍25至65 D
精準度
± 0.05 D(± 0.01毫米)
可重複性
± 0.10 D(± 0.02毫米)
類型A
符合19980標準
物理資料
 
物理資料
420毫米 x 600毫米
重量
30公斤
聯接電壓 約100伏特至約240伏特
電源頻率 50 Hz 至 60 Hz
耗電量
≤ 200 VA
  • i.Profiler® plus的特點為高解析度波前像差測量和角膜地形圖測量,提供所有評估顧客眼睛屈光狀態所需要的資料。
  • 分析模式可以將顧客視力所受到的像差影響視覺化,最高包括達到第7階Zernike像差。此外,通過點擴散函數可以類比i.Scription®技術的‎優點。

您驗光中心的i.Scription®技術

簡單流暢地整合至您的工作流程

i.Scription 技術能夠輕易融入您的整個諮詢過程和工作流程。通過使用 i.Profiler®,即可將這項技術輕鬆整合至驗光分析過程。

有關蔡司i.Scription®的更多詳細資訊

1.客觀驗光

2.主觀驗光

3. i.Scription技術

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使用i.Profiler® plus進行客觀驗光,取得顧客的光學「指紋」,而且只需要60秒就能偵測到所有像差。

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蔡司i.Profiler® plus取得的數值和 i.Polatest® 的視力檢查結果相輔相成,幫助您完全瞭解顧客雙眼間的相互作用。您可以在瀏覽i.Scription®檢查軟件中的數值之後,再與顧客進行討論。

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優化處方資料將傳輸並儲存至i.Com,以便直接通過PMS或LOGON®下訂單。

  單光現成鏡片 單光車房鏡片2 漸進鏡片
雙焦鏡片
雙焦鏡片
可搭配i.Scription®技術 3 3

Angelo Bertozzi , Ottica iVision

Angelo Bertozzi , Ottica iVision, Italy

下載手冊

ZEISS Dispensing Tools & Instruments

蔡司配鏡工具和儀器

2014/2015產品目錄

1 美國第7,744,217號專利。其他專利申請中。產品使用Carl Zeiss Vision光學公司i.Profiler® plus技術設計和製造。美國專利第7,744,217號。其他專利申請中。產品使用Carl Zeiss Vision光學公司技術設計和製造。
2 包括時尚型;可用於所有染色、鍍膜及其它表面處理和特殊加工
3 局部地區適用

 

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